产品介绍 白光干涉仪SIS系列采用增加相位扫描干涉技术,是专为准确测量表面轮廓、粗糙度、台阶高度和其他表面参数而设计的微纳米测量系统,,为韩国SAMSUNG指定供应商,LPL友好俱乐部成员,清华大学,... ...
基本参数 详细说明 产品说明: 具有高温测试功能 显示分辨率:0.1mm 适合测量金属、塑料、陶瓷、玻璃及其他任何 声波的良导体的厚度 大屏幕LCD背... ...
产品介绍 Radiant系列为一款的光学影像量测仪。此产品具有与精准的特性,可在单一机台上执行多种功能,大大减少重复购置机台的花费与使用空间的浪费。 产品特点 1、流线型的造型设计,外观... ...
Leica激光跟踪仪 激光跟踪仪是Leica 工业测量系统推出的一款便携式测量系统,它利用激光进行的测量和检测,其测量范围可以包容直径达160米的球形测量空间。 激光跟踪仪通过三种方式测得物体的... ...
产品介绍 VME系列光学影像测量仪采用设计:工作台采用大理石桌面,性能更加稳定,Z轴和调光板采用的前置设计方便操作,并新配有17寸液晶显示器,采用3DFAMILY Step Zoom镜头,结合软件在固定倍率下无... ...
声波测量厚仪根据声波脉冲反射原理来进行厚度测量的,当探头发射的声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时,脉冲被反射回探头,通过测量声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。时代声波测量... ...
Leica 跟踪仪 AT401 以其优异的性能成为空间范围内的精密坐标测量设备(CMM),凭借内部电池供电以及对恶劣环境的适应能力,它可以在各种工作条件下保持的测量。AT401 充分满足了大型结构对于高精... ...
产品介绍 VMP系列光学影像测量仪,是本公司10年技术积累的经典机型,测量可达:2.5+L/200μm,并在设计上采用多项技术充分体现了“以人为本”的设计思想,前置的Z轴和灯光调节面板,配置与... ...